Ihre E-Mail-Adresse oder Ihr Passwort ist falsch. Bitte versuchen Sie es erneut. Wenn Sie Ihre Anmeldedaten vergessen haben, klicken Sie einfach auf den unten stehenden Link "Passwort vergessen?".
Advanced Model Based Films Analysis License for Mx. Measures thickness and topography of transparent optical films >50nm. This license also includes a thick film software license. MBA requires a Nexview Class Optical profiler for data acquisition
only_quote
Please request a quote for pricing and requirements for this product
